A paper on the failure rate of automobiles authored by Sakurai Atsushi, who is the CEO & CTO of Functional Safety Consultant FS Micro (Headquarters: Shibuya Ward, Tokyo, JAPAN) received the Best Paper Award at ISPCE 2017 (2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering) held in San Jose, California in May 2017.

On 14th, on May 9th morning of local time, a paper authored by Sakurai Atsushi, who is the CEO & CTO of FS Micro Corporation (Head office: Shibuya-ward, Tokyo, JAPAN), functional safety consultant) received the Best Paper Award at ISPCE 2017 (Note 1), an international conference of IEEE (Note 2) held in San Jose, California, from May 8th to 10th, 2017.

Among the 20 formal papers, there is only one to be deserved as the Best Paper Award.

The title of the paper won the Best Paper Award is "Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems" related to the PMHF (Note 3).

When performing safety analysis using FMEDA (Note 4) or quantitative FTA (Note 5) in accordance with ISO 26262 which is the international standard of automobile functional safety (Note 6), the failure rate calculation formula relating to the redundant subsystem (Note 7) is unclear, it was difficult to accurately perform quantitative analysis.

It was selected as the Best Paper Award, because it contributes to expand the application of the standard in quantitative safety analysis.

Note 1: 2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering. International conference organized by the IEEE's Product Safety Engineering Society, once a year from 2004, with regard to product safety.
Note 2: The world's largest academic institute on electrical and electronics engineering headquartered in the United States.
Note 3: PMHF (Probabilistic Metric for Random Hardware Failures) means the average probability of failure per hour over the operational lifetime of the item.
Note 4: Inductive analytical method which quantitatively demonstrates how failure modes of parts affect safety of the whole system using the failure rate.
Note 5: A deductive analytical method that quantitatively demonstrates the possibility of the safety goal violation by calculating the probability using the fault tree.
Note 6: Methodology to ensure system safety by adding various safety measures.
Note 7: Subsystems subject to functional safety, those with redundancy.

Previous Next

2017年5月にアメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催された、IEEEの製品安全に関する国際学会であるISPCE 2017（2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering）において、ISO 26262機能安全コンサルタントのFSマイクロ（本社：渋谷区）代表　桜井　厚の執筆した自動車の故障率に関する論文が最優秀論文賞を受賞しました。

2017年5月8日から10日まで、アメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催されたIEEE（注1）の国際学会である第14回ISPCE 2017（注2）において、現地時間の5月9日午前11時、ISO 26262機能安全コンサルタントのFSマイクロ株式会社（本社：渋谷区）代表取締役社長　桜井　厚の執筆した論文が最優秀論文賞を受賞しました。

正式論文として投稿された20本のうち、最優秀論文賞は1本のみです。

最優秀論文賞を受賞した論文の題名は「Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems」という、PMHF（注3）に関する論文です。
これまで自動車の機能安全（注4）の国際規格であるISO 26262に従いFMEDA（注5）や定量FTA（注6）を用いて安全分析を行う場合、冗長サブシステム（注7）に関する故障率算出式が不明確であったため定量分析を正確に行うことが困難でした。
定量的な安全分析における同規格の適用範囲を拡大したことが評価され、最優秀論文賞に選ばれたものです。

注1：アメリカ合衆国に本部を持つ電気工学・電子工学技術に関する世界最大規模の学会
注2：2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering。IEEEが2004年から年に一度主催する国際学会で、製品安全に関しては世界最高レベルの学会 http://2017.psessymposium.org/
注3：PMHF (Probabilistic Metric for Random Hardware Failures)は、車両寿命間における故障確率の時間平均を表す指標
注4：様々な安全機構を付加することで、システムの安全性を担保する考え方
注5：部品の故障モードがシステム全体の安全にどのように影響するかを、故障率を用いて定量的に論証する帰納的な分析手法
注6：安全目標侵害確率を故障のツリーを用いて算出することにより、故障が危険な事象となる可能性を定量的に論証する演繹的な分析手法
注7：機能安全の対象となるシステムのうちの一部で、冗長性を持つもの

前のブログ 次のブログ