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| 日付 | 2017-05-15 |
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| タイトル | FSマイクロ代表の桜井 厚の論文がIEEE学会の最優秀論文賞を受賞 |
| 内容 | 2017年5月8日から10日まで、アメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催されたIEEE（注1）の国際学会である第14回ISPCE 2017（注2）において、現地時間の5月9日午前11時、ISO 26262機能安全コンサルタントのFSマイクロ株式会社（本社：渋谷区）代表取締役社長 桜井 厚の執筆した論文が最優秀論文賞を受賞しました。 正式論文として投稿された20本のうち、最優秀論文賞は1本のみです。 最優秀論文賞を受賞した論文の題名は「Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems」で、邦題は「冗長サブシステム（注3）に関するランダムハードウェア故障の確率的メトリクス計算の一般式」です。 これまで自動車の機能安全（注4）の国際規格であるISO 26262に従いFMEDA（注5）や定量FTA（注6）を用いて安全分析を行う場合、冗長サブシステムに関する故障率算出式が不明確であったため定量分析を正確に行うことが困難でした。 定量的な安全分析における同規格の適用範囲を拡大したことが評価され、最優秀論文賞に選ばれたものです。 注1：アメリカ合衆国に本部を持つ電気工学・電子工学技術に関する世界最大規模の学会 注2：2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering。IEEEが2004年から年に一度主催する国際学会で、製品安全に関しては世界最高レベルの学会 http://2017.psessymposium.org/ 注3：機能安全の対象となるシステムのうちの一部で、冗長性を持つもの 注4：様々な安全機構を付加することで、システムの安全性を担保する考え方 注5：部品の故障モードがシステム全体の安全にどのように影響するかを、故障率を用いて定量的に論証する帰納的な分析手法 注6：安全目標侵害確率を故障のツリーを用いて算出することにより、故障が危険な事象となる可能性を定量的に論証する演繹的な分析手法 |